2015 年度研究成果報告書

３次元LSIにおけるビア接続不良に対するテストと診断に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号	25330062
研究種目	基盤研究(C)
配分区分	基金
応募区分	一般
研究分野	計算機システム
研究機関	愛媛大学
研究代表者	樋上喜信愛媛大学, 理工学研究科, 准教授 (40304654)
研究分担者	高橋寛愛媛大学, 大学院理工学研究科, 教授 (80226878)
研究期間 (年度)	2013-04-01 – 2016-03-31
キーワード	LSI / 故障診断 / 遅延故障
研究成果の概要	3次元LSIにおいてビア接続不良が発生した場合に考えられる影響として，信号の伝搬遅延が想定される．そこで本研究では，遅延故障に対する故障診断法を開発した．対象故障は，ゲート信号線とクロック信号線であり，様々な大きさの遅延量に適用可能とした．また，一時的に信号値が変化するハザードの発生にも対応できるようにした．開発した手法をベンチマーク回路に適用した実験により開発した手法の有効性を確認した．
自由記述の分野	計算機工学