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非常に薄く、少しの力を加えただけで壊れてしまうような膜や電極に対し、原子力顕微鏡のような力のフィードバック・除振機構、ピエゾ素子によるアプローチを必要とせずに、試料を破壊・汚染することなく非破壊で可逆的に電気コンタクトを形成する技術を開発して、I-V特性・C-V特性やバイアス印加XPSなどの評価を可能にした。
具体的には、AFMにおけるフォースカーブで弾性変形している領域の圧力を、接触面積が百ミクロンのオーダーで実現するコンタクトプローブを開発し、バイアス印加XPS測定や5層グラフェン膜の電気抵抗測定により、有効性を実証した。
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