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欠陥が無い状態の試験体の大きさを変化させた実験により、端子間の距離が大きくなるのに比例して奥行き方向の測定可能範囲が大きくなることが明らかとなった。模擬的な空洞の大きさを変化させた実験により、端子間の距離が大きくなるのに比例して端子間の距離を変えた方向に空洞の測定可能範囲が大きくなること、奥行き方向には測定範囲は変わらないことが明らかとなった。空洞の大きさおよび深さ位置を変化させた実験により、空洞の深さ位置が20mm以下であれば異なる端子間距離の測定値から、空洞の大きさや位置が推定できる可能性が得られた。
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