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本研究では、LSI（大規模集積回路）に搭載されている機密情報の安全性を保証しつつ、低コストで高品質なLSIの製造テストを実施し、その信頼性・安全性を確保する技術を確立することを目的とする。
3年間の研究機関で、LSIの高位設計におけるテスト容易化合成・テスト容易化設計法、効率的なテスト生成モデルを生成するためのテスト容易化機能情報抽出法、低消費電力・テスト圧縮を指向したテスト生成法、トロイ検出法を提案した。
少ないハードウェアオーバヘッドでLSIの高品質なテストを安全に低コストで実現できることに貢献した。
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