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半導体プロセス微細化に伴い、信頼性が集積回路設計における大きな問題となりつつある。本研究は、集積回路の信頼性問題の解決策として、「予測」の概念を導入し、in-situエラー予測による高信頼・低エネルギーLSI設計技術の研究開発を行った。まず、ばらつきに対して、実際回路動作の途中段階で回路が正しく動作しているか否かを高精度な予測設計技術を開発した。次に、ソフトエラーに対して、LSI回路中の信号を利用・比較することによりソフトエラーを検出・回復できるラッチ設計を提案した。さらに、LSI回路のエネルギーを最小化するために、トランジスタ特性ばらつきや動作環境に応じて高信頼化AVS設計技術を提案した。
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