シリカゲルからなるSECカラムを使用し、充填粒子の細孔構造評価をSEM、TEMおよび3D-TEMを用いて行った。SEM観察より、シリカゲル粒子は粒径分布が狭く、平均粒径が約9μmを有することが確認された。またシリカゲル粒子の超薄切片のTEM観察より、細孔はゲル内部まで均一に存在していることが確認された。さらにゲル粒子内部を3次元TEM観察したところ、シリカゲル内部は3次元共連続網目構造をとっており、最大空隙サイズは実測で最大60nm程度と見積もられた。また、カラム中の粒子の充填構造をSEM観察したところ、ゲル粒子間には多数の隙間が存在し、ゲル粒子は最密充填されていないことも確認された。
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