|
本研究では、まず純錫と銅を微量添加しためっきを対象とした。スプリングバック後の残留応力により導入された局所応力場によって発生する表面ナノ欠陥の挙動について、原子間力顕微鏡を用いて観察した。欠陥の発生に加えて消失も確認することができ、デジタル画像相関法によるひずみ解析から、ひずみ勾配が急峻な場所で欠陥の発生が生じていることが確認できた。また、画像の差分から欠陥の体積成長速度を定量的に評価することができた。
続いて、ルテニウムを添加した試料をマイクロ波加熱することで生成し、表見観察から一部の酸化表面から欠陥の成長を確認した。観察された欠陥は、一般に錫表面から生成する欠陥とは異なる挙動を示している。
|
