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2004 Fiscal Year Annual Research Report

高品質化環境における検出特性向上のための管理図法の開発

Research Project

Project/Area Number 14580484
Research InstitutionOsaka Prefecture University

Principal Investigator

太田 宏  大阪府立大学, 工学研究科, 教授 (00081414)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 楠川 恵津子  大阪府立大学, 工学研究科, 助手 (00336801)
Keywords高品質工程 / 高品質工程用管理図 / 統合管理図
Research Abstract

高品質化環境における管理図法の開発を目的とした本研究の平成16年度の研究実績を以下に挙げる.
[1]欠点数を管理対象とした高品質工程用CS_<CQ-r>管理図とその経済設計(A CS_<CQ-r> Chart to Monitor the Process Defect Rate for High-Yield Processes and Its Economic Design)
本研究では,高品質工程での製品中の欠点率を管理対象としたCQ-r管理図の検出特性向上を目的として,欠点率が工程管理状態から悪化,良化のいずれの方向へ微小に変化した場合でもその検出特性に優れるCS_<CQ-r>管理図を提案した.併せてCS_<CQ-r>管理図につき経済性の観点から観測欠点数r,サンプリング間隔と管理限界の最適設計についても考究した.
[2]欠点数を管理対象とした高品質工程用統合管理図(A Synthetic Chart to Monitor the Defect Rate for High-Yield Processes)
上記[1]で研究開発を行ったCS_<CQ-r>管理図の検出特性向上を目的として,平成14年度に研究開発を行い研究実績報告を行った,不良率を管理対象とした"高品質工程用統合管理図の提案"の設計手法をもとに,CS_<CQ-r>管理図とCQ-r管理図との統合管理図の提案を行った.併せて,提案管理図の有効性をANOS (Average Number of Observations to Signal)をもとに検証した.
[3]高品質工程用EWMA_<CCC-r>管理図の提案(Exponentially Weighted Moving Average Chart for High-Yield Processes)
高品質工程での不良率を管理対象としたCCC-r管理図の検出特性向上を目的として,品質特性の工程管理状態からの変化が小さい場合の検出特性に優れるEWMA管理図の設計法をCCC-r管理図に適用させたEWMA_<CCC-r>管理図を提案した.併せて,提案管理図の有効性をANOS (Average Number of Observations to Signal)をもとに検証した.
最後に,平成14年度に研究開発を行い,研究実績報告を行った"高品質工程における動的CCC-r管理図の経済設計(Economic Design of A Dynamic CCC-r Chart for High-Yield Processes)"については学術論文誌に掲載された。詳細は11.研究発表欄で報告する.

  • Research Products

    (4 results)

All 2004

All Journal Article (4 results)

  • [Journal Article] Economic Design of a Dynamic CCC-r Chart for High-Yield Processes2004

    • Author(s)
      Kudo, K., Ohta, H., Kusukawa, E.
    • Journal Title

      Economic Quality Control 19

      Pages: 7-21

  • [Journal Article] A CS_<CQ-r> Chart to Monitor the Process Defect Rate for High-Yield Processes and Its Economic Design2004

    • Author(s)
      Kusukawa, E., Ohta, H.
    • Journal Title

      Proceedings of 8th International Conference on Manufacturing & Management

      Pages: 446-453

  • [Journal Article] A Synthetic Chart to Monitor the Defect Rate for High-Yield Processes2004

    • Author(s)
      Kusukawa, E., Ohta, H.
    • Journal Title

      Proceedings of 5th Asia-Pacific Industrial Engineering and Management Systems Conference 2004

      Pages: 24.3.1-24.3.9

  • [Journal Article] Exponentially Weighted Moving Average Chart for High-Yield Processes2004

    • Author(s)
      Kotani, T., Kusukawa, E., Ohta, H.
    • Journal Title

      Proceedings of 5th Asia-Pacific Industrial Engineering and Management Systems Conference 2004

      Pages: 24.6.1-24.6.9

URL: 

Published: 2006-07-12   Modified: 2016-04-21  

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