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2005 Fiscal Year Annual Research Report

マイクロ波原子間力顕微鏡の開発及びナノ領域における電気的特性の定量評価

Research Project

Project/Area Number 17206011
Research InstitutionTohoku University

Principal Investigator

巨 陽  東北大学, 大学院・工学研究科, 助教授 (60312609)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 村岡 幹夫  秋田大学, 工学資源学部, 助教授 (50190872)
笹川 和彦  弘前大学, 理工学部, 助教授 (50250676)
坂 真澄  東北大学, 大学院・工学研究科, 教授 (20158918)
Keywordsマイクロ波 / 原子間力顕微鏡 / AFMプローブ / ナノ領域 / 電気特性 / 導電率 / 近接場計測 / 表面計測
Research Abstract

本研究はナノテクノロジー発展の要求に応え、次世代材料・デバイスの開発・評価に不可欠な手段としてナノメートルレベルの微小領域における電気的特性を定量評価するマイクロ波原子間力顕微技術の開発を目的とする。本研究では、材料・デバイスの微小領域における電気的特性の定量評価を可能にする独自の発想に基づき、マイクロ波顕微技術と原子間力顕微技術を融合する全く新しいシステムの確立を図る。原子間力顕微鏡(AFM)の既存機能である表面形状計測と同時に、新たに材料表面の電気的特性分布を検出・画像化できるマイクロ波原子間力顕微技術を開発する。
本年度は以下の実績を得た。
1.マイクロ波導波AFMプローブの設計
マイクロ波の伝送特性と、AFMプローブの形状、寸法等各要素を考慮し、電磁波の伝送解析に基づき、マイクロ波を効率よく伝送できる導波線路を設計した。さらに導波線路の材質、形状、寸法、使用周波数等に基づき、マイクロ波の伝送・検出ができるマイクロ波導波AFMプローブの最適な構造を決定した。
2.ガリウム砒素AFMカンチレバーの作製
マイクロ波導波路の基板として導波損失の少ないガリウム砒素を用い、微細加工プロセスにより、マイクロ波導波プローブの基本になるAFMのカンチレバーを作製した。
3.マイクロ波導波AFMプローブの完成
スパッタリングによりガリウム砒素カンチレバーの上下表面に金属膜を蒸着させ、マイクロストリップライン構造の導波路を形成した。さらに集束イオンビーム加工技術を用いて、カンチレバー探針部の導波路を完成させ、マイクロ波の伝送ができるAFMのカンチレバー、すなわちマイクロ波導波AFMプローブを作製した。
4.マイクロ波導波AFMプローブの評価
原子間力顕微鏡を用いて、開発したマイクロ波AFMプローブの表面形状計測機能を調査し、プローブのバネ定数や検出分解能等について評価した。

  • Research Products

    (24 results)

All 2006 2005

All Journal Article (24 results)

  • [Journal Article] Novel AFM Probe for Local Conductivity Measurement2006

    • Author(s)
      B.-F.Ju (Y.Ju, M.Saka)
    • Journal Title

      International Journal of Nanoscience (印刷中)

  • [Journal Article] Contactless Measurement of Electrical Conductivity of Si Wafers Independent of Wafer Thickness2005

    • Author(s)
      Y.Ju (Y.Hirosawa, H.Soyama, M.Saka)
    • Journal Title

      Applied Physics Letters 87・16

      Pages: 162102-1-162102-3

  • [Journal Article] Microscopic Four-Point Atomic Force Microscope Probe Technique for Local Electrical Conductivity Measurement2005

    • Author(s)
      Y.Ju (B.-F.Ju, M.Saka)
    • Journal Title

      Review of Scientific Instruments 76・8

      Pages: 086101-1-086101-3

  • [Journal Article] Fabrication of a Microscopic Four-Point Probe and Its Application to Local Conductivity Measurement2005

    • Author(s)
      B.-F.Ju (Y.Ju, M.Saka)
    • Journal Title

      Journal of Micromechanics And Microengineering 15・2

      Pages: 2277-2281

  • [Journal Article] Evaluation of the Shape and Size of 3-D Cracks Using Microwaves2005

    • Author(s)
      Y.Ju (M.Saka, Y.Uchimura)
    • Journal Title

      NDT and E International 38・8

      Pages: 726-731

  • [Journal Article] A Systematic Method for Characterizing the Elastic Properties and Adhesion of a Thin Polymer Membrane2005

    • Author(s)
      B.-F.Ju (Y.Ju, M.Saka et al.)
    • Journal Title

      International Journal of Mechanical Sciences 47・3

      Pages: 319-332

  • [Journal Article] A Methodology for Damage Strength Evaluation of a Single Biomimetic Microcapsule2005

    • Author(s)
      Y.Ju (B.-F.Ju, M.Saka)
    • Journal Title

      Key Engineering Materials 297-300

      Pages: 1730-1735

  • [Journal Article] マイクロ波による半導体材料の導電率の定量評価手法の開発2005

    • Author(s)
      巨 陽(大野 悌, 祖山 均, 坂 真澄)
    • Journal Title

      日本AEM学会誌 13・1

      Pages: 32-37

  • [Journal Article] Fabrication of the Tip of GaAs Microwave Probe by Wet Etching2005

    • Author(s)
      Y.Ju (H.Sato, H.Soyama)
    • Journal Title

      Proc. 2005 ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS, and Electronic Systems IPACK2005-73140(CD-ROM)

      Pages: 1-4

  • [Journal Article] Development of a New Microscopic Four-Point AFM Probe for the Measurement of Local Electrical Conductivity2005

    • Author(s)
      B.-F.Ju (Y.Ju, M.Saka)
    • Journal Title

      Proc. 2005 ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS, and Electronic Systems IPACK2005-73433(CD-ROM)

      Pages: 1-4

  • [Journal Article] Microwave NDE of a Small 3-D Crack on the Surface of Stainless Steel2005

    • Author(s)
      Y.Ju (M.Saka, Y.Uchimura)
    • Journal Title

      Proc. 11th International Conference on Fracture (CD-ROM)

      Pages: 1-6

  • [Journal Article] Sensitivity-Enhanced Atomic Force Acoustic Microscopy with Mass-Concentrated Cantilevers2005

    • Author(s)
      M.Muraoka
    • Journal Title

      Nanotechnology 16・4

      Pages: 542-550

  • [Journal Article] Measurement of Thin Film Elasticity Using Nanoscopic Contact Resonance of a Flat Tip in Sensitivity-Enhanced Atomic Force Acoustic Microscopy2005

    • Author(s)
      M.Muraoka (S.Komatsu, F.Izumida)
    • Journal Title

      Proc. 2nd JSME/ASME International Conference on Materials and Processing (CD-ROM)

      Pages: 1-5

  • [Journal Article] Thin Film Characterization by Sensitivity-Enhanced Atomic Force Acoustic Microscopy2005

    • Author(s)
      M.Muraoka (S.Komatsu, F.Izumida)
    • Journal Title

      Proc. International Conference on Manufacturing, Machine Design and Tribology (CD-ROM)

      Pages: 1-4

  • [Journal Article] Simple Evaluation of Elasticity in Nano-Meter Scale Using a Flat-Ended Sensor Tip in Sensitivity-Enhanced Atomic Force Acoustic Microscopy2005

    • Author(s)
      M.Muraoka (S.Komatsu)
    • Journal Title

      Proc. 11th International Conference on Fracture (CD-ROM)

      Pages: 1-6

  • [Journal Article] Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line2005

    • Author(s)
      S.Uno (M.Hasegawa, K.Sasagawa et al.)
    • Journal Title

      Key Engineering Materials 297-300

      Pages: 263-268

  • [Journal Article] Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Lines2005

    • Author(s)
      K.Sasagawa (S.Uno, N.Yamaji, M.Saka)
    • Journal Title

      Proc. 2005 ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS, and Electronic Systems IPACK2005-73133(CD-ROM)

      Pages: 1-6

  • [Journal Article] Derivation of Film Characteristic Constants by Using Governing Parameter for Electromigration Damage in Passivated Bambooline2005

    • Author(s)
      M.Hasegawa (K.Sasagawa, M.Saka)
    • Journal Title

      Proc. 11th International Conference on Fracture (CD-ROM)

      Pages: 1-8

  • [Journal Article] Formation of Metallic Nanowires by Utilizing Electromigration2005

    • Author(s)
      M.Saka (R.Ueda)
    • Journal Title

      Journal of Materials Research 20・10

      Pages: 2712-2718

  • [Journal Article] A Comparative Study of the Mechanical Strength of Chemical Vapor-Deposited Diamond and Physical Vapor-Deposited Hard Coatings2005

    • Author(s)
      S.Kamiya, (H.Nagasawa, K.Yamanobe, M.Saka)
    • Journal Title

      Thin Solid Films 473・1

      Pages: 123-131

  • [Journal Article] Nondestructive Sizing of a 3D Surface Crack Generated in a Railway Component Using Closely Coupled Probes for Direct-Current Potential Drop Technique2005

    • Author(s)
      M.Akama (M.Saka)
    • Journal Title

      Engineering Fracture Mechanics 72・2

      Pages: 319-334

  • [Journal Article] Diagram of Electromigration Pattern in Eutectic Pb-Sn and Pb-free Solders2005

    • Author(s)
      T.Hasegawa (M.Saka)
    • Journal Title

      Key Engineering Materials 297-300

      Pages: 837-843

  • [Journal Article] Acoustic Microscopy for Micro Electrical Interconnections2005

    • Author(s)
      H.Tohmyoh (T.Akaogi, M.Saka)
    • Journal Title

      Proc. 2005 ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS, and Electronic Systems IPACK2005-73061(CD-ROM)

      Pages: 1-5

  • [Journal Article] High-Resolution Acoustic Imaging via the Dry-Coupling Interface without Including Nano-Meter Size Air Gaps2005

    • Author(s)
      H.Tohmyoh (M.Saka, H.Sakai)
    • Journal Title

      Proc. Third US-Japan Symposium on Advancing Applications and Capabilities in NDE (CD-ROM)

      Pages: 1-4

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Published: 2007-04-02   Modified: 2016-04-21  

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