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2016 Fiscal Year Annual Research Report

Application of bivariate degradation analysis for prediction of remaining capacity of Lithium ion secondary battery

Research Project

Project/Area Number 26350472
Research InstitutionThe University of Electro-Communications

Principal Investigator

横川 慎二  電気通信大学, i-パワードエネルギー・システム研究センター, 准教授 (40718532)

Project Period (FY) 2014-04-01 – 2017-03-31
Keywordsリチウムイオン二次電池 / 信頼性 / 2変量ストレス / 劣化 / 混合効果モデル / 特徴量 / ニューラルネットワーク / 予測
Outline of Annual Research Achievements

リチウムイオン二次電池において,充放電劣化と保存劣化の2変量ストレスが,残容量劣化に及ぼすそれぞれの寄与,及びそれらの相関について実験による検証を行い,その挙動を予測するモデルの検討を行った.試験の前半と後半で2変量ストレスの比率が異なる複数のパターンの試験を実施し,最終的にサンプルが経験するストレスが同一の下で,そこに至る履歴が異なる検証を実施した.
複数サンプルによる実験の結果,経路によって到達劣化量に若干の差が生じること,電池セルの個体差に伴う劣化量の差が生じうることがわかった.そこで,2変量ストレスによる変動を,2変量の交互作用を考慮した固定効果モデルで表現した.また,電池セルの個体間差を変量効果として表現し,両者を組み合わせた線形混合効果モデルによる分析を行った.その結果,2変量ストレスの交互作用項は高度に有意であり,両者が混在する一般的な使用条件では充放電劣化の重みが高いことがわかった.また,電池セルの個体間差が劣化において有意となり,これらの品質管理がより重要な要素であることが判明した.作成した線形混合効果モデルは,99%を超える寄与率となり十分に実験結果を説明している.
また,共同研究先より提供をうけた数年分の市場データをニューラルネットワークによって分析した結果,市場における製品の使われ方とそれによる劣化が,上記の実験結果を反映する挙動を示すことが判明した.ここでは,市場におけるオンラインモニタリングデータを用いたが,前述の線形混合効果モデルの検討において選択された変数にあたる指標を用いてニューラルネットワークを構築し,予測を行った.すなわち,変動をよく説明する特徴量を統計モデルにおける変数選択の手続きを通じて抽出済みであったものと考えられる.今後,ビッグデータ全体から深層学習で得られた特徴量を,物理化学モデルへ写像することについて研究を進める.

  • Research Products

    (8 results)

All 2017 2016

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results,  Acknowledgement Compliant: 2 results) Presentation (5 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results,  Invited: 1 results)

  • [Journal Article] Two-step probability plot for parameter estimation of lifetime distribution affected by defect clustering in time-dependent dielectric breakdown2017

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 56 Pages: 印刷中

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] トラブル予測表を用いた故障モード予測方法と信頼性・安全性の作りこみ評価指標の提案2016

    • Author(s)
      山崎 雄大,横川慎二, 鈴木和幸
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 38 Pages: 271-283

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] A simulation study for lifetime distribution of time-dependent dielectric breakdown in middle-of-line affected by global and local space variations2016

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 55 Pages: 06JF02-1-6

    • DOI

      http://doi.org/10.7567/JJAP.55.06JF02

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Impacts of Censoring on Lifetime Analysis by 2-step Probability Plot in Defect Clustered TDDB2017

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • Place of Presentation
      Monterey, USA
    • Year and Date
      2017-04-02 – 2017-04-06
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] 半導体集積回路配線の信頼性課題と寿命予測2017

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第64回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      パシフィコ横浜(神奈川県・横浜市)
    • Year and Date
      2017-03-14 – 2017-03-17
    • Invited
  • [Presentation] 信頼性の寿命分布に関する最近の動向ーばらつきとクラスタリングー2016

    • Author(s)
      横川慎二
    • Organizer
      第26回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム
    • Place of Presentation
      太田区産業プラザ(東京都・大田区)
    • Year and Date
      2016-11-30
  • [Presentation] A simple method of parameter estimating for time-dependent clustering model in MOL/BEOL TDDB lifetime2016

    • Author(s)
      Shinji Yokogawa
    • Organizer
      Advanced Metallization Conference 2016: 26th Asian Session
    • Place of Presentation
      Tokyo University (Tokyo)
    • Year and Date
      2016-10-20 – 2016-10-21
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] リチウムイオン二次電池の劣化における充放電サイクルと待機時間の影響2016

    • Author(s)
      横川慎二, 長野祐児
    • Organizer
      第24回日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム
    • Place of Presentation
      日本科学技術連盟(東京都・杉並区)
    • Year and Date
      2016-05-23

URL: 

Published: 2018-01-16  

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