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多孔質シリコンにおける添加エルビウムの発光励起機構の解明に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 09650021
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 応用物性・結晶工学
研究機関東洋大学

研究代表者

森川 滝太郎  東洋大学, 工学部, 教授 (80191013)

研究分担者 小室 修二  東洋大学, 工学部, 助教授 (90120336)
研究期間 (年度) 1997 – 1998
研究課題ステータス 完了 (1998年度)
配分額 *注記
1,700千円 (直接経費: 1,700千円)
1998年度: 500千円 (直接経費: 500千円)
1997年度: 1,200千円 (直接経費: 1,200千円)
キーワード多孔質シリコン / エルビウム添加 / 光励起発光
研究概要

本期究の目的は、エルビウム添加多孔質シリコンに高速短波長の励起光パルスを照射し、生ずる多孔質シリコンからの可視域発光と添加エルビウムからの赤外域発光の時間的相関関係を実験的に把握することによって、両者間のエネルギー伝達過程をモデノ化し、多孔質シリコンに添加したエルビウムからの波長1.54μm発光に係わる励起機構を明らかにすることである。
抵抗率10〜20Ωcmのp型シリコン基板を陽極化し、得られる多孔質シリコンに液浸法を用いてエルビウムを添加した後、熱処理による光学活性化を行って試料を作成した。この試料に対してパルスレーザー光励起による時間分解発光分光測定を行い、可視域と赤外域の発光応答の時間的差異を調べた結果、励起光によって多孔質シリコン中に生成された電子・正孔対とエルビウムイオンとの間のクーロン相互作用に起因する発光中心(仮想準位)の存在を想定することの必要性が明らかとなった。
発光励起機構の解明に関連して、試料の局所構造をX線吸収微細構造分光によって調べた結果、エルビウムと酸素が近づいた非対称六配位構造が発光の要因であることが分かった。また、電界印加によって電子・正孔対の解離に起因する消光を調べた結果、電界が臨界値を超えると発光は急速に減少することが分かった。さらに、レーザーアブレーションで作成したエルビウム添加微結晶シリコンの光励起発光分光を行った結果、その発光過程は多孔質シリコンの場合に類似していることが分かった。
これらの諸結果を踏まえ、発光中心(仮想準位)を介する励起エネルギーの伝達機構を想定して励起緩和過程のレート方程式を解くと、実験結果と理論値との間に極めて良い一致が得られた。こうして、波長1.54μmの添加エルビウムからの赤外域発光は、母体である多孔質シリコンで生成された電子・正孔対からエルビウムへのエネルギー伝達、という間接励起によることが結論づけられた。

報告書

(3件)
  • 1998 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 1997 実績報告書
  • 研究成果

    (13件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (13件)

  • [文献書誌] X.Zhao: "Photoluminescence and probe effect of Er-doped nanometer-sized Si materials" Applied Surface Science. 113/114. 121-125 (1997)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] P.O'Keeffe: "Oxygen-induced defect luminescence in porous silicon" Applied Surface Science. 113/114. 135-139 (1997)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S.Komuro: "Time response of 1.54μm emission from highly Er-doped nanocrystalline Si thin films prepared by laser ablation" Appl.Phys.Lett.74・3. 377-379 (1999)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Ishii: "The optically active center and its activation process in Er-doped Si thin film produced by laser ablation" J.Appl.Phys.(to be published). (1999)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] X.Zhao et al.: "Photoluminescence and probe effect of Er-doped nanometer-sized Si materials" Applied Surface Science. 113/114. 121-125 (1997)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] P.O'Keeffe et al.: "Oxygen-induced defect luminescence in porous silicon" Applied Surface Science. 113/114. 135-139 (1997)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S.Komuro et al.: "Time response of 1.54mum emission from highly Er-doped nanocrystalline Si thin films prepared by laser ablation" Appl.Phys.Lett.74-3. 377-379 (1999)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Ishii et al.: "The optically active canter and its activation process in Er-doped Si thin film produced by laser ablation" J.Appl.Phys.(to be published). (1999)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1998 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S.Komuro: "Time response of 1.54μm emission from highly Er-doped nanocrystalline Si thin film prepared by laser ablation" Appl.Phys.Lett.74・3. 377-379 (1999)

    • 関連する報告書
      1998 実績報告書
  • [文献書誌] M.Ishii: "The optically active center and its activation process in Er-doped Si thin film produced by laser ablation" J.Appl.Phys.to be published. (1999)

    • 関連する報告書
      1998 実績報告書
  • [文献書誌] S.Komuro: "Room-temperature luminescence form erbium-doped silicon thin films prepared by laser ablation" Appl.Phys.Lett.69・25. 3896-3698 (1996)

    • 関連する報告書
      1997 実績報告書
  • [文献書誌] X.Zhao: "Photoluminescence and probe effect of Er-doped nanometer-sized Si materials" Applied Surface Science. 113/114. 121-125 (1997)

    • 関連する報告書
      1997 実績報告書
  • [文献書誌] P.O′Keeffe: "Oxygen-induced defect luminescence in porous silicon" Applied Surface Science,. 113/114. 135-139 (1997)

    • 関連する報告書
      1997 実績報告書

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公開日: 1997-04-01   更新日: 2016-04-21  

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