| 研究課題/領域番号 |
10450316
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
工業分析化学
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
伊藤 泰男 東京大学, 原子力研究総合センター, 教授 (40011150)
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| 研究期間 (年度) |
1998 – 2000
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| 研究課題ステータス |
完了 (2000年度)
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| 配分額 *注記 |
5,300千円 (直接経費: 5,300千円)
2000年度: 900千円 (直接経費: 900千円)
1999年度: 600千円 (直接経費: 600千円)
1998年度: 3,800千円 (直接経費: 3,800千円)
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| キーワード | 陽電子消滅 / ポジトロニウム / 高分子材料 / 自由体積 / Xe-129NMR / ポリイミド / ガス収着 / sorption / polyimide / positronium lifetime / free volume / neutron diffraction / polytetrafIuoroethyIene / positronium Iifetime / ^<129>Xe NMR / reverse osmosis membrane / 自由空間 / キャピラリー効果 |
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| 研究概要 |
陽電子を絶縁材料に注入した時に生成するポジトロニウムの強度と寿命から自由体積などのミクロ空孔構造を測定する技術について、ポジトロニウムの物理化学についての認識の厳密さを損なうことなく、実用化するガイドラインを確立する目的で、以下の検討を行った。
1)ポジトロニウムによって空孔を測定する際の特徴を整理した。
・ポジトロニウムは、空孔の大きさを拡げかつより大きい空孔を探すという特徴があることを原理的に明らかにした。
・その上で、ポジトロニウムが空孔を押し広げる程度は、ゴム状またはプラスチック化した高分子材料では20%程度であることを実験的に示した。この程度の精度で空孔径を測定していることとを認める必要がある。
・ただし、ガラス状態高分子では空孔を押し広げる程度はこれよりも小さい。
・ポジトロニウム強度は空孔の数について直接的な指標ではない。
2)他の手法による測定結果とのクロスチェックを行う。
・Xe-129 NMRの化学シフトが高分子の空孔プローブとして有効であることを示し、ポジトロニウムのデータをその基礎に用いた。
3)いくつかの実用的なケースについて、ポジトロニウムを用いた空孔評価を実施した。
・数種類のポリイミドにプロピレンガスを収着させ、収着によって空孔構造がどのように変わるかを調べた。
・逆浸透膜について空孔の評価を行った。
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