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仮想的配線を用いたプログラム可能論理素子とその論理合成法に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 14380146
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 計算機科学
研究機関九州工業大学

研究代表者

笹尾 勤  九州工業大学, 情報工学部, 教授 (20112013)

研究分担者 梶原 誠司  九州工業大学, 情報工学部, 教授 (80252592)
井口 幸洋  明治大学, 理工学部, 助教授 (60201307)
研究期間 (年度) 2002 – 2004
研究課題ステータス 完了 (2004年度)
配分額 *注記
8,700千円 (直接経費: 8,700千円)
2004年度: 2,200千円 (直接経費: 2,200千円)
2003年度: 2,200千円 (直接経費: 2,200千円)
2002年度: 4,300千円 (直接経費: 4,300千円)
キーワードFPGA / メモリ / 再編成可能論理 / BDD / 関数分解 / 論理設計 / 再構成可能論理 / 再構成可能倫理
研究概要

1.アーキテクチャの開発。多出力論理関数を実現する方法として、組み合わせ回路を実現するLUT(look-up table)カスケードと、リング構造を有する、LUTリングの二つのアーキテクチャを考案した。LUTカスケードは、LUTを直列に接続したものであり、配置配線が単純である。一方、LUTリングは、LUTカスケードを順序回路を用いて模擬するものであり、大規模メモリ、接続回路、制御回路からなる。LUTリングは、動的に変更可能な接続回路を用いており、FPGAのような配置配線の問題は生じない。LUTリングをLSIで実装した場合の性能を評価した。通常のFPGAよりは遅くなるが、同一速度のマイクロプロセッサに比べ10〜100倍高速になることを示した。
2.多出力論理関数の合成手法の開発BDD(二分決定グラフ)を用いて不完全定義多出力関数を能率良く関数分解する手法を考案した。本手法を用いて、中間出力を有する組み合わせ回路型LUTカスケードの設計プログラムを開発した。また、基数変換回路や算術演算回路を設計し、ドントケアを考慮しない場合に比べハードウエア量を数10%削減できることを示した。
3.多出力関数をLUTカスケードで実現する際、符号化を工夫することによりLUTの個数を削減する方法を開発した。LUTの個数を削減することにより、論理関数を実現するために必要なメモリの量を削減できる。本研究では中間変数を1変数関数に変換する符号化法を開発した。本手法を用いると、多くのベンチマーク関数においてLUTの個数を10%程度削減できることを実験的に示した。
4.メモリパッキングのアルゴリズムの開発。LUTリングは、メモリパッキングという手法を用いて、必要なメモリを削減可能である。そのアルゴリズムを開発し、種々の関数に適用したところ、平均すると40%メモリを削減可能なことがわかった。

報告書

(4件)
  • 2004 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2003 実績報告書
  • 2002 実績報告書
  • 研究成果

    (36件)

すべて 2004 2003 2002 その他

すべて 雑誌論文 (28件) 文献書誌 (8件)

  • [雑誌論文] Fault diagnosis for RAMs using Walsh spectrum2004

    • 著者名/発表者名
      A.Iseno, Y.Iguchi, T.Sasao
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Information and Systems Vol.E87-D, No.3

      ページ: 592-600

    • NAID

      110003213916

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 実績報告書 2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Area-time complexities of multi-valued decision diagrams2004

    • 著者名/発表者名
      S.Nagayama, T.Sasao, Y.Iguchi, M.Matsuura
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics Vol.e87-A, No.5

      ページ: 1020-1028

    • NAID

      110003212997

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] A realization of multiple-output functions by a look-up table ring2004

    • 著者名/発表者名
      H.Qin, T.Sasao, M.Matsuura, K.Nakamura, S.Nagayama, Y.Iguchi
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics Vol.e87-A

      ページ: 3141-3150

    • NAID

      110003212851

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 実績報告書 2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Fast Boolean matching under permutation by efficient computation of canonical form2004

    • 著者名/発表者名
      D.Debnath, T.Sasao
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics Vol.e87-A

      ページ: 3134-3140

    • NAID

      110003212850

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 実績報告書 2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] XID : Don't care identification of test patterns for combinational circuits2004

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE Trans.Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems Vol.23, No.2

      ページ: 321-326

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 実績報告書 2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] 論理回路に対するテストコスト削減法-テストデータ量およびテスト実行時間の削減-(サーベイ論文)2004

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 梶原誠司, 市原英行, 高松雄三
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D-I Vol.J87-D-I, No.3

      ページ: 291-307

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Test data compression using don't-care identification and statistical encoding2004

    • 著者名/発表者名
      S.Kajihara, K.Taniguchi, K.Miyase, I.Pomeranz, S.M.Reddy
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Syst. Vol.E87-D, No.3

      ページ: 544-550

    • NAID

      110003317948

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Scan tree design : test compression with test vector modification2004

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara
    • 雑誌名

      情報処理学会論文誌 Vol.44, No.5

      ページ: 1270-1278

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] A realization of multiple-output functions by a look-up table ring2004

    • 著者名/発表者名
      H.Qin, T.Sasao, M.Matsuura, K.Nakamura S.Nagayama, Y.Iguchi
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics Vol.e87-A

      ページ: 3141-3150

    • NAID

      110003212851

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Test cost reduction for logic circuits-Reduction of test data volume and test application time-2004

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami, S.Kajihara, H.Ichihara, Y.Takamatsu
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Sys. Vol.E87-D-I, No.3

      ページ: 291-307

    • NAID

      110003171307

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Test data compression using don't-care identification and statistical encoding2004

    • 著者名/発表者名
      S.Kajihara, K.Taniguchi, K.Miyase, I.Pomeranz, S.M.Reddy
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Sys. Vol.87-D, No.3

      ページ: 544-550

    • NAID

      110003317948

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Scan tree design : test compression with test vector modification2004

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara
    • 雑誌名

      IPSJ Trans. Vol.44, No.5

      ページ: 1270-1278

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Area-time complexities of multi-valued decision diagrams2004

    • 著者名/発表者名
      S.Nagayama, T.Sasao, Y.Iguchi, M.Matsuura
    • 雑誌名

      EICE Transactions on Fundamentals of Electronics Vol.e87-A, No.5

      ページ: 1020-1028

    • NAID

      110003212997

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] 論理回路に対するテストコスト削減法-テストデータ量およびテスト実行時間の削減-(サーベイ論文)2004

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信, 梶原誠司, 市原英行, 高松雄三
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D-I Vol.J87-D-I No.3

      ページ: 291-307

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] Compact representations of logic functions using heterogeneous MDDs2003

    • 著者名/発表者名
      S.Nagayama, T.Sasao
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics Vol.E86-A, No.12

      ページ: 3168-3175

    • NAID

      110003173551

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] On selecting testable paths in scan designs2003

    • 著者名/発表者名
      Y.Shao, S.M.Reddy, I.Pomeranz, S.Kajihara
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Testing Theory and Applications (Kluwer Academic Publishers) Vol.19, Issue 4

      ページ: 447-456

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] On test data volume reduction for multiple scan chain designs2003

    • 著者名/発表者名
      S.M.Reddy, K.Miyase, S.Kajihara, I.Pomeranz
    • 雑誌名

      ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems Vol.8, No.4

      ページ: 460-469

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Evaluation of delay testing based on path selection2003

    • 著者名/発表者名
      M.Fukunaga, S.Kajihara, S.Takeoka, S.Yoshimura
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Fundamentals. E86-A, No.12

      ページ: 3208-3210

    • NAID

      110003212604

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] On selecting testable paths in scan designs2003

    • 著者名/発表者名
      Y.Shao, S.M.Reddy, I.Pomeranz, S.Kajihara
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Testing Theory and Applications(Kluwer Academic Publishers) Vol.19, Issue 4

      ページ: 447-456

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Evaluation of delay testing based on path selection2003

    • 著者名/発表者名
      M.Fukunaga, S.Kajihara, S.Takeoka, S.Yoshimura
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Fundamentals E86-A, No.12

      ページ: 3208-3210

    • NAID

      110003212604

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Bi-partition of shared binary decision diagrams2002

    • 著者名/発表者名
      M.Matsuura, T.Sasao, J.T.Butler, Y.Iguchi
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics Vol.E85-A, No.12

      ページ: 2693-2700

    • NAID

      110003212440

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] A Method of static test compaction based on don't care identification2002

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara, S.M.Reddy
    • 雑誌名

      情報処理学会論文誌 Vol.43, No.5

      ページ: 1290-1293

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] テストパターン中の特定ビットにおけるドントケア判定法について2002

    • 著者名/発表者名
      宮瀬紘平, 梶原誠司, イリス ポメランツ, スダーカ レディ
    • 雑誌名

      FIT2002 情報科学技術フォーラム 情報技術レターズ 第1巻2002年, LC-3

      ページ: 47-48

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Average power reduction in scan testing by test vector Modification2002

    • 著者名/発表者名
      S.Kajihara, K.Ishida, K.Miyase
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Syst. Vol.E85-D, No.10

      ページ: 1483-1489

    • NAID

      110006376577

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Hybrid BIST design for n-detection test using partially rotational scan2002

    • 著者名/発表者名
      K.Ichino, T.Asakawa, S.Fukumoto, K.Iawasaki, S.Kajihara
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Syst. Vol.E85-D, No.10

      ページ: 1490-1497

    • NAID

      110006376578

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] A Method of static test compaction based on don't care identification2002

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara, S.M.Reddy
    • 雑誌名

      IPSJ Trans. Vol.43, No.5

      ページ: 1290-1293

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Don't-C are Identification on Specific Bits of Test Patterns2002

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, S.Kajihara, I.Pomeranz, S.M.Reddy
    • 雑誌名

      FIT2002, Information Technology Letters Vol.1, LC-3

      ページ: 47-48

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Average power reduction in scan testing by test vector modification2002

    • 著者名/発表者名
      S.Kajihara, K.Ishida, K.Miyase
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Info.and Syst. Vol.E85-D, No.10

      ページ: 1483-1489

    • NAID

      110006376577

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] S.Nagayama, T.Sasao, Y.Iguchi, M.Matsuura: "Aea-time complexities of multi-valued decision diagrams"IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics. Vol.E87-A. 1020-1028 (2004)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] S.Nagayama, T.Sasao: "Compact representations of logic functions using heterogeneous MDDs"IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics. Vol.E86-A. 3168-3175 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] A.Iseno, Y.Iguchi, T.Sasao: "Fault diagnosis for RAMs using Walsh spectrum"IEICE Trans.Information and Systems. Vol.E87-A. 592-600 (2004)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] Kohei Miyase: "A method of static test compaction based on don't care identification"情報処理学会論文誌. 43・5. 1290-1293 (2002)

    • 関連する報告書
      2002 実績報告書
  • [文献書誌] 宮瀬紘平: "テストパターン中の特定ビットにおけるドントケア判定法について"FIT2002情報科学技術フォーラム情報技術レターズ. 1・LC-3. 47-48 (2002)

    • 関連する報告書
      2002 実績報告書
  • [文献書誌] Seiji Kajihara: "Average power reduction in scan testing by test vector modification"IEICE Trans. Info. and Syst.. E85-D・10. 1483-1489 (2002)

    • 関連する報告書
      2002 実績報告書
  • [文献書誌] Kenichi Ichino: "Hybrid BIST design for n-detection test using partially rotational scan"IEICE Trans. Info. and Syst.. E85-D・10. 1490-1497 (2002)

    • 関連する報告書
      2002 実績報告書
  • [文献書誌] M.Matsuura: "Bi-partition of shared binary decision diagrams"IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics. E85-A・12. 2693-1700 (2002)

    • 関連する報告書
      2002 実績報告書

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公開日: 2002-04-01   更新日: 2016-04-21  

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